Микроанализ и исследование структуры материалов
Oxford Instruments выпускает системы микроанализа для электронной микроскопии. В каталоге представлены EDS-детектор Xplore 30 и EBSD-система C-Nano для анализа элементного состава и кристаллографической структуры образцов.
Подбор и применение
EDS используют для определения элементов, EBSD — для исследования фаз, ориентации и зеренной структуры. При комплектации СЭМ согласуют геометрию камеры, совместимость детектора, задачи анализа и конфигурацию программного обеспечения.
Направления каталога
Подбор, поставка и обслуживание в Ликлаб
Отправьте модель оборудования, задачу и условия эксплуатации. Для запасных частей приложите артикул и фотографию маркировки. Лаборатория поможет согласовать состав поставки, подключение и необходимые сервисные работы.
